Cognex In-Sight 1750 晶圓 ID 讀取器上市|AI 強化 Wafer ID 與 Panel ID 追溯

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Cognex In-Sight 1750 晶圓與面板 ID 追溯

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半導體設備整合|Wafer ID / Panel ID|內容更新:2026年11月3日

Cognex In-Sight 1750:設備商的晶圓與面板識別整合評估

In-Sight 1750(IS1750)是 Cognex 康耐視的新一代 Wafer ID 與 Panel ID 識別系統。本文整理產品特色、半導體設備應用及 IS1740 升級注意事項,協助設備研發、電控與軟體工程師規劃晶圓追溯。

Cognex 正式推出新一代 In-Sight 1750 Wafer ID 晶圓識別與 Panel ID 面板讀取系統,針對半導體晶圓製造、先進封裝及面板製程的自動識別與追溯需求而設計。

In-Sight 1750 結合 AI 影像辨識、先進成像技術與專用照明設計,可提升低對比、劣化、模糊或高難度晶圓標記的讀取穩定性,協助半導體設備製造商與晶圓廠降低人工介入、提高設備稼動率,並強化 Wafer Traceability 晶圓追溯能力。

對既有 Cognex In-Sight 1740 / IS1740 使用者而言,In-Sight 1750 同時兼顧系統升級與既有設備整合需求,可降低設備改造與重新導入的複雜度。

In-Sight 1750 是什麼?

Cognex In-Sight 1750 是專為半導體產業開發的新一代 Wafer ID Reader 晶圓 ID 讀取器與 Panel ID Reader 面板識別系統。

主要用途是自動讀取晶圓或基板上的識別資訊,讓每一片晶圓在製造、搬送、加工、測試與封裝過程中都能被正確識別與追蹤。

隨著 AI 伺服器、高效能運算 HPC、先進封裝與新一代半導體需求快速成長,晶圓廠持續擴充產能,Wafer ID 自動識別與製程追溯的重要性也同步提升。

即使只是少量晶圓 ID 讀取失敗,都可能造成:

  • 設備停機或等待
  • 操作人員人工確認
  • 晶圓追溯中斷
  • 製程資料錯誤
  • 設備稼動率下降
  • 生產節拍受到影響

因此,高可靠度的晶圓 ID Reader 已成為半導體自動化設備的重要組成。

In-Sight 1750 四大核心優勢

1. 提升 Wafer ID 晶圓識別可靠度

In-Sight 1750 可因應多種不同晶圓、面板與基板上的高難度標記,包括低對比、表面反射、標記品質下降或其他較難辨識的 ID。
透過 Cognex 最新 AI 技術、影像處理與照明設計,可提高晶圓 ID 自動讀取成功率,降低人工重新確認的機會。

2. 降低設備中斷與人工介入

當 Wafer ID 無法穩定讀取時,往往需要操作人員重新定位、確認或手動輸入資料。
In-Sight 1750 透過提升辨識穩定度,可協助半導體製造設備降低異常停機與人工處理頻率,使設備維持更穩定的生產節拍。

3. 強化晶圓追溯與製程管理

在晶圓製造及半導體封裝製程中,每一片 Wafer 都必須對應正確的 Lot、製程與生產履歷。
In-Sight 1750 透過穩定的 Wafer ID / Panel ID 自動識別,協助建立完整的晶圓追溯資料,提高品質管理與製程控制的一致性。
系統亦提供內建讀取紀錄功能,可進一步支援品質追蹤與製程管理。

4. 支援 IS1740 現有設備升級

In-Sight 1750 特別考量現有 In-Sight 1740 晶圓讀取系統的升級需求。
既有使用者可在降低設備重新設計與系統修改幅度的情況下,升級至新一代 Wafer ID 技術,同時導入 Cognex 最新 AI 辨識能力。
對半導體設備商而言,可有效降低:

  • 設備重新設計成本
  • 軟體修改工時
  • 系統整合風險
  • 產線停機時間
  • 使用者重新教育成本

Web 操作介面讓設定更簡單

In-Sight 1750 採用全新的 Web-based 網頁式設定介面,讓設備工程師可更快速完成系統設定與調整。
相較傳統設定流程,可降低系統導入門檻,同時提高設備維護與參數調整的便利性。

In-Sight 1750 適合哪些半導體應用?

Cognex In-Sight 1750 適合需要進行 Wafer ID、晶圓編號辨識、Panel ID 或半導體製程追溯的自動化設備,例如:

  • Wafer Sorter 晶圓分選設備
  • Wafer Aligner 晶圓校正設備
  • Load Port / EFEM
  • FOUP 晶圓搬送系統
  • 晶圓製程設備
  • 半導體封裝設備
  • Advanced Packaging 先進封裝設備
  • Panel Level Packaging(PLP)
  • 晶圓 Mapping 與追溯系統
  • 半導體自動化設備
  • Wafer OCR / Wafer ID 自動辨識

為什麼半導體產線需要更可靠的 Wafer ID?

在半導體產線中,Wafer ID 不只是「讀取一組編號」,而是整個製造履歷與設備資料串接的關鍵節點。

一旦晶圓識別錯誤或讀取失敗,可能影響:
Wafer ID → Lot 資訊 → 製程站點 → Recipe → 生產履歷 → MES / Factory Automation

因此,高可靠度的 Wafer ID Reader 有助於提升設備自動化程度、資料完整性與整體設備效率 OEE。

半導體設備商導入前,先確認這五項條件

針對 Wafer Sorter、Wafer Aligner、EFEM/Load Port 周邊及先進封裝設備,建議將讀取器選型與機台動作、資料交換及驗收條件一併規劃。以下為工程評估項目,並非所有設備均可直接連接。

設備商關注項目 建議提供的評估資料
標記與樣品 Wafer ID/Panel ID 照片、字元尺寸、標記位置,以及低對比或難讀樣品。
光學與機構 晶圓或基板材質、工作距離、可用安裝空間、視野及反射條件。
觸發與節拍 靜止或移動讀取、觸發時序、允許讀取時間與重試策略。
通訊與追溯 設備控制器/工業電腦介面、ID 回傳格式、OK/NG 處理及影像紀錄需求。MES 或 SECS/GEM 串接須另確認設備端或中介軟體架構。
驗證與驗收 代表性樣品、允收讀取率、誤讀判定、異常處理及長時間運行測試條件。

IS1740 可以直接替換成 IS1750 嗎?

應先進行相容性確認。原廠提供升級與工作轉換說明,但機構固定、電源 I/O 線材、照明配置、通訊及程式仍須逐項檢查,不能視為所有機台都能直接替換。宇佑可依現有設備配置協助評估升級範圍。

Cognex 持續強化半導體晶圓識別技術

Cognex 長期投入機器視覺、AI 視覺辨識與半導體自動識別技術。

In-Sight 1750 延續 Cognex 在 Wafer ID 領域累積多年的經驗,並進一步整合最新 AI 技術,讓半導體製造商在擴充產能的同時,仍能維持晶圓識別可靠度、製程追溯性與生產品質。

Cognex 董事長暨執行長 Matt Moschner 表示,AI 基礎建設投資正在帶動新一波半導體產業擴張。晶片製造商必須以更快速度增加產能,同時維持嚴格的品質與追溯標準。In-Sight 1750 結合 Cognex 最新 AI 技術與多年半導體應用經驗,正是針對這項需求所開發的新一代晶圓識別平台。

Cognex In-Sight 1750 Wafer ID 常見問題 FAQ

In-Sight 1750 是做什麼的?

In-Sight 1750 是 Cognex 推出的新一代 Wafer ID 晶圓 ID 與 Panel ID 面板讀取系統,主要用於半導體晶圓與基板上的識別碼自動讀取及製程追溯。

In-Sight 1750 與 In-Sight 1740 有什麼關係?

In-Sight 1750 是新一代晶圓識別平台,並特別考量既有 In-Sight 1740 使用者的升級需求,可降低重新設計設備與系統整合的複雜度。

In-Sight 1750 可以讀取比較難辨識的 Wafer ID 嗎?

可以。In-Sight 1750 整合 Cognex AI、影像技術及專用照明設計,主要目的之一就是提升低對比、品質劣化及高難度晶圓標記的讀取可靠度。

In-Sight 1750 適合先進封裝應用嗎?

適合。除了傳統晶圓製程外,In-Sight 1750 也可應用於先進封裝、Panel Level Packaging、Wafer Sorter、Aligner、EFEM 等需要晶圓或面板追溯的自動化設備。

台灣哪裡可以詢問 Cognex In-Sight 1750?

宇佑科技長期投入 Cognex 機器視覺、Wafer ID、OCR、AI 視覺及半導體設備整合應用。

如有 Cognex In-Sight 1750、IS1750、Wafer ID 晶圓讀取、Panel ID、Wafer OCR、晶圓追溯或 In-Sight 1740 升級相關需求,歡迎洽詢宇佑科技,由專業團隊協助進行應用評估、機種選擇與系統整合。

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實際讀取效果、介面與升級相容性,須依原廠文件、選用機型及樣品測試確認。

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